Лаборатория
Нейтронной Физики
им. И.М. Франка

Мобильное меню

Семинар ОЯФ, 20.05.26

Тип события: Семинар ОЯФ
Тип события (для фильтра): Лабораторные семинары

Семинар ОЯФ

20.05.2026 11:00 Конференц-зал ЛНФ (3-й этаж)

"Диагностика поверхности ионными пучками на ускорительном комплексе"

Александр Фаддеевич Гурбич (Физико-Энергетический Институт им. А. И. Лейпунского, Обнинск)

В докладе рассматриваются реализованные на базе ускорительного комплекса ФЭИ методы диагностики поверхности при помощи пучков протонов, дейтронов, ионов 3He, 4He и 12С. По типу взаимодействия ускоренных пучков с ядрами поверхности эти методы включают в себя резерфордовское и нерезерфордовское упругое рассеяние (RBS и EBS), анализ по продуктам ядерных реакций (NRA) и по ядрам отдачи (ERDA), по мгновенному гамма-излучению (PIGE) и по рентгеновским лучам (PIXE). Обсуждаются методические усовершенствования, приводятся примеры элементного анализа полупроводниковых структур и реакторных материалов, исследований накопления и миграции изотопов водорода в металлах, массопереноса в термоядерных установках, аттестации тонких мишеней, используемых в ядерно-физических экспериментах. Представлены результаты измерений и оценки дифференциальных сечений, необходимых для извлечения профилей концентрации искомых элементов из измеренных спектров. Обсуждается современное состояние разработанной под эгидой МАГАТЭ библиотеки экспериментальных данных по сечениям IBANDL и калькулятора оцененных сечений SigmaCalc.